隨著(zhù)工業(yè)生產(chǎn)自動(dòng)化水平的提升以及生產(chǎn)流程安全高效運行要求不斷提高，行業(yè)對各類(lèi)材料以及零部件的成分檢測提出了更高的要求。易諾科技奧林巴斯提供一系列基于X射線(xiàn)表征材料的儀器，可使客戶(hù)在需要時(shí)隨時(shí)隨地進(jìn)行檢測分析。

X射線(xiàn)衍射（XRD）分析儀BTX III XRD是一款機身小巧的臺式分析儀，可以為用戶(hù)提供礦物主要成分和次要成分的可靠的定量性礦物學(xué)信息。這款分析儀將性能強大的軟件和改進(jìn)的X射線(xiàn)探測器結合在一起使用，提高了檢測的速度和靈敏度。

BTX III臺式XRD分析儀

同樣在檢測分析方面有著(zhù)出色表現的VANTA Element-S手持式X射線(xiàn)熒光（XRF）分析儀，吸引了眾多專(zhuān)業(yè)人士的咨詢(xún)、體驗。在對材料進(jìn)行分揀的過(guò)程中，龐大的數據量以及雜亂的材料常常導致檢測的開(kāi)展十分緩慢。VANTA Element-S分析儀配備硅漂移探測器（SDD），可對元素進(jìn)行分析，并在幾秒內對合金進(jìn)行牌號辨別和分揀，能夠快速有效地測量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量。