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X熒光光譜儀(XRF)的基本原理

X熒光光譜儀是根據X射線(xiàn)熒光光譜的分析方法配置的多通道X射線(xiàn)熒光光譜儀,它能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。
  X射線(xiàn)熒光(XRF)能夠測定周期表中多達83個(gè)元素所組成的各種形式和性質(zhì)的導體或非導體固體材料,其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質(zhì)物料等。凡是能和x射線(xiàn)發(fā)生激烈作用的樣品都不能分析,而且要分析的樣品必須是在真空(4~5pa)環(huán)境下才能測定。


  X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測系統構成。X射線(xiàn)管通過(guò)產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn)),來(lái)激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn),并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量。然后,儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷,同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長(cháng)的X射線(xiàn),因此,只要測出熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)或者能量,就可以知道元素的種類(lèi),這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎。此外,熒光X射線(xiàn)的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系,據此,可以進(jìn)行元素定量分析。


  近年來(lái),X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展,廣泛應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛生等各個(gè)領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應用得zui多也zui廣泛,是一種中型、經(jīng)濟、高性能的波長(cháng)色散X射線(xiàn)光譜儀。

  X熒光光譜儀具有以下優(yōu)點(diǎn):
  a)分析速度高。測定用的時(shí)間與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。


  b)X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。大多數分析元素均可用其進(jìn)行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內,這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定。


  c)非破壞分析。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
  d)X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
  e)分析精密度高。
  f)制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

  當然,也有一些不足之處,具體如下:
  a)難于作分析,故定量分析需要標樣。
  b)對輕元素的靈敏度要低一些。
  c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。


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